Cart is empty
(0 articles)
The SFT 2400 with integrated coupling network simulates electrical fast transient (EFT) as defined in IEC 61000-4-4 and EN 61000-4-4 standards.
Due to the very short rise time of 5ns, the individual pulses generate a broadband RF spectrum up to 300 MHz.
The simple operation takes place via a capacitive color touch display.
All parameters are clearly displayed without nested menus and can be changed quickly by tapping and using a digital rotary encoder.
The normative test levels 1, 2, 3 and 4 are preprogrammed, additional test sequences can be stored via the memory function.
The SFT 2400 also offers a variety of special features such as "Real Burst", which simulates the natural appearance of the burst pulse or "noise" which simulates contact bouncing.
The functions "IFM" and "DFM" (increasing or decreasing frequency) are important tools for examining resonance or saturation effects in the device under test.
IEC / EN 6100-4-4
SFT 2400 med integrerat kopplingsnätverk simulerar elektrisk snabb transient (EFT) enligt definitionen i IEC 61000-4-4-standarderna.
På grund av mycket kort stigtid på 5ns genererar de individuella pulserna ett bredbandigt RF-spektrum uo till 300 MHz.
Den enkla manövreringen sker via en kapacitiv färgpekskärm.
Alla parametrar visas tydligt utan kapslade menyer och kan ändras snabbt genom att trycka på och använda en digital roterande encoder.
De normativa testnivåerna 1, 2, 3 och 4 är programmerade, ytterligare testsekvenser kan lagras via minnesfunktionen.
Prestandafunktioner:
Alla skurparametrar kan ändras under ett skurtest. Detta garanterar att det enkelt och kontinuerligt kan detekteras provets feltröskel. Ett avbrott av testet för en parameterändring vid skurgeneratorn är inte nödvändigt.
Den i praktiken uppträdande pulsskuren överensstämmer inte med standardens definition. Dess fysikaliska egenskaper avviker från standarddefinitionen. Generatorn SFT 2400 ger användaren en mängd olika specialfunktioner som "Real Burst", som simulerar det naturliga utseendet av Burst-pulsen eller "Noise" kan simuleras med kontaktstudsen.
För lokalisering av fel är det möjligt att koppla skurpulsen mycket exakt till en viss processtid för EUT. Burstpulsmikrosekunden utlöstes exakt med ett jitter på <25ns.
